A képen a kaolinit transzmissziós elektronmikroszkópos (TEM) felvételét látjuk. A kaolinit a rétegszilikátok alosztályának agyagásványok alcsoportjába tartozó ásvány. A felvételen látszanak a kaolinit szerkezetére jellemző egymásra következő kapcsolódó rétegek. Az áteső fényben vizsgáló fénymikroszkóphoz hasonlóan a transzmissziós elektronmikroszkóp a sugárforrásából (elektronágyú) érkező elektronsugárral világítja át a vizsgált mintát. A mintán az elektronsugár csak akkor tud áthaladni, ha abból előzetesen vékony (10-100 nm vastagságú) metszet készül (mert az elektronsugár csak néhány tized mm vastagságú mintán tud áthatolni). A nagyfelbontású elektronmikroszkópia esetén két vagy több, különbözőképpen diffraktált elektronnyaláb interferenciaképét használják fel a kristályrács leképezésére.